Teli 表面瑕疵檢測器 & TriEye SWIR
產品型號:Surface Flaw Detection Scope
產品分類:製造設備
廠商名稱:睿怡科技股份有限公司
攤位號碼:I616
產品特色
Teli 日本工業相機製造廠商,主要產品為USB3介面及高速高解析度相機。 本次展覽特別推出Surface Flaw Detection Scope,利用多波長同軸孔徑濾光片透過散射光進行高速檢測,可檢出平坦表面上難以觀察的微小刮痕,並使用不同顏色凸顯影像中難以辨識的瑕疵。
TriEye SWIR 1.3M 相機,經濟實惠的高解析度 SWIR相機,擴展不同應用領域,看到一般可見光看不到的瑕疵。
相關產品
-
Crevis 5M SWIR 近紅外線相機
-
AT / Osela 雷射三角法 光學模組
-
CIS 業界最高解析度 250M(兩億五千萬畫素)
-
SVS (TKH Group) 高速高解析度127M CXP-12相機
-
Excelitas 鏡頭 及 PCO /OPTEM/X-Cite科研等級設備
-
Myutron 大面陣低倍率& 高倍率遠心鏡頭
-
Euresys 影像擷取卡及影像處理軟體
-
AVT (TKH Group) USB3 SWIR 5MP相機
-
ADIMEC 高速高解析度相機
您可能有興趣的產品
人氣產品專區