兼具高速掃描、大視野成像與高適應性演算法,專為線上全檢需求設計,鎖定半導體與精密光學產業
廠商名稱:鑑微科技股份有限公司
發佈日期:2025-08-18
攤位號碼:L802
台灣年度自動化工業盛會「2025台北國際自動化工業大展」即將於8月20日於南港展覽館一館一連展出4天;台灣唯一專注發展量測級結構光技術公司鑑微科技,今年將重磅發表全新旗艦級產品「高適應性深度顯微鏡(ADM)」,展現團隊在3D垂直光學檢測領域持續向前跨越。
鑑微科技指出,ADM 3D垂直光學檢測產品系列問世,標誌著鑑微在3D光學量測領域的一大突破,ADM技術兼具高速掃描、大視野成像與高適應性演算法,是專為線上全檢需求設計,鎖定半導體與精密光學產業的四大場域:Micro Bump(微凸塊)、Micro LED、Micro Lens(微型鏡頭陣列)與高寬深比盲孔結構等關鍵應用檢測進行優化。
首先,針對Micro Bump應用上,ADM在維持高解析力的同時,提供更大的視野與更快的取像速度,能大幅縮短12吋晶圓的3D檢測時間,提升產線效率。
其次,面對Micro LED的檢測挑戰,ADM提供優異的複合材質成像能力,能迅速掌握每一顆Chip的3D外型與表面品質,為高良率製程提供保障。
第三、在Micro Lens領域,ADM優化了可成像角度,使微型鏡片的表面曲率與細節能完整還原,讓高速形貌擬合與光學特性分析更具可行性。
最後,對於盲孔這一類高寬深比結構的檢測需求,ADM 更展現卓越的穿透成像能力,能有效觀察孔內壓接針、連接器母端等傳統解決方案難以直接觀測的特徵,為微型連接元件的製程良率控管提供創新解方。
鑑微科技表示,ADM系列的開發秉持「為品質服務×高適應性 ×線上檢測」三大設計理念,期望打破過往受限於速度而僅能進行抽樣檢查的困境,實現真正的高品質全檢控管。
今年展會,鑑微科技攤位現場除ADM產品外,並有多款結構光量測模組與應用成果,鑑微公司說,「誠摯邀請業界先進蒞臨鑑賞,體驗鑑微於微觀世界中的創新視界。」
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